| Аннотація | АНАЛИЗ ВЕЩЕСТВА
Кулапина Е. Г., Чернова Р. К., Кулапин А. И., Митрохина С. А. Селективные мембранные электроды для определения синтетических поверхностно-активных веществ (обзор)...3
Денисова А. Е., Кабанова О. Л. Прецизионное определение ртути в высокотемпературных сверхпроводниках состава Hg-Ba-Cu-О методом кулонометрии при постоянном потенциале...15
ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ
ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯ
Рентгеноструктурный анализ
Селиванов В. Н., Смыслов Е. Ф. Рентгенографическое определение логарифмически-нормального распределения частиц по размерам в нанокристаллических материалах...19
Каблис Г. Н., Пунегов В. И., Шилов С. В., Петраков А. П. Исследование структурных характеристик кристаллов флюорита методами рентгеновской дифрактометрии и топографии...26
Хейкер Д. М., Андриянова М. Е., Сульянов С. Н., Дуцукин С. С., Заневский Ю. В., Фатеев О. В., Черненко С. П. Рентгеновский дифрактометр для порошков с двумерной беспараллаксной пропорциональной камерой, острофокусной |