| Номер документа в системі: | 255115 |
| Автор: | Раков А. В. |
| Назва документа: | Спектрофотометрия тонкопленочных полупроводниковых структур |
| Видавництво: | Сов. радио |
| Місто видання: | Москва |
| Рік видання: | 1975 |
| УДК | 535.33+621.315.592:53 |
| Мова документу | Російська |
| Шифр документу | 535 |
| Кількість сторінок | 175 с. |