Номер документа в системі: | 25718 |
Автор: | Абрукин Я. А., Кристовский Г. В. |
Назва документа: | Исследование влияния вторичного пробоя на надежность транзисторных ключей схем выборки ЗУ. Доклад на конференции молодых специалистов и ученых ин-та точной механики и вычислительной техники им. С. А. Лебедева |
Видавництво: | ИТМ |
Місто видання: | Москва |
Рік видання: | 1976 |
УДК | 621.382.3.0193(06) |
Мова документу | Російська |
Шифр документу | 621.382.3 |
Кількість сторінок | 17 с. |