| Аннотація | Монография посвящена применению сканирующего электронного микроскопа, работающего в режиме дифракции обратнорассеянных электронов (ДОЭ/ЕВББ), для определения параметров ориентировки индивидуальных зерен, текстуры в локальной области образцов, идентификации фаз на поверхности объемных поликристаллов, разориентировки границ зерен и др. Рассмотрены методы получения и анализа данных ДОЭ (ЕВ80) на примере металлических сплавов в субмикрокристаллическом и наноструктурном состояниях. Даны рекомендации по режимам подготовки образцов, процедурам сбора данных и способам обработки полученного массива.
Для исследователей, занимающихся изучением структурных состояний после различных обработок, а также преподавателей и студентов при подготовке курсов по физике твердого тела, металлофизике, материаловедению, наноструктурным материалам.
ПРЕДИСЛОВИЕ…3
ГЛАВА 1. ТЕОРИЯ ДОЭ (ЕВ50)…5
1.1.Схема и принцип действия ДОЭ (ЕВБО)…6
1.2.Комплектация установки: аппаратная и программная части…13
ГЛАВА 2 ПОДГОТОВКА ОБРАЗЦОВ ДЛ |