Номер документа в системі: | 291815 |
Автор: | Фелдман Л. Майер Д. |
Назва документа: | Основы анализа поверхности и тонких пленок |
Видавництво: | Мир |
Місто видання: | Москва |
Рік видання: | 1989 |
УДК | 539.27+538.971 |
Мова документу | Російська |
Шифр документу | 539.2 |
Кількість сторінок | 342 с. |