Номер документа в системі: | 30299 |
Автор: | Gebhardt O. |
Назва документа: | SIMS depth profiling, line scanning and imaging analyses of the oxide layer on in-reactor corroded cladding specimens with high lateral resolution |
Рік видання: | 1999 |
УДК | 53 |
Мова документу | Англійська |
Шифр документу | 53 |
Кількість сторінок | 6c. |