| Номер документа в системі: | 33220 |
| Автор: | Александров Л. Н., Зотов М. И. |
| Назва документа: | Внутреннее трение и дефекты в полупроводниках |
| Видавництво: | Наука |
| Місто видання: | Новосибирск |
| Рік видання: | 1979 |
| УДК | 537.311.322:548.4+621.315.592.004 |
| Мова документу | Російська |
| Шифр документу | 537 |
| Кількість сторінок | 159 с. |