| Номер документа в системі: | 347817 |
| Автор: | Wang C. P., Fan J. K., Li F. G., Liu J. C. |
| Назва документа: | Electron Backscatter Difraction Analysis of the Microstructure Fineness in Pure Copper under Torsional Deformation = Анализ дифракционной картины обратного рассеяния электронов для изучения микроструктуры чистой меди при деформации кручения |
| УДК | 539.374+669.3 |
| Мова документу | Англійська |
| Кількість сторінок | P. 106-111. |