Номер документа в системі: | 354178 |
Автор: | Клим Г., Костів Ю, Чалий Д., Івануса А., Ткачук Т. |
Назва документа: | Оптимізований метод вимірювання позитронних анігіляційних спектрів у наноматеріалах з розвиненою поруватістю для сенсорних застосувань |
УДК | 620.179.1.05+620.3 |
Мова документу | Українська |
Шифр документу | 531.7 |
Кількість сторінок | С. 87-93. |