Kim Dong-Won
Analysis by speckle interferometry of the dependency of yield stress on residual stress
В наявності 1 з 1 примірників.
Номер документа в системі:
51260
Автор:
Kim Dong-Won
Назва документа:
Analysis by speckle interferometry of the dependency of yield stress on residual stress
Мова документу
Англійська
Кількість сторінок
221–232 p.
Повернутися до переліку бібліотечних фондів