Han Lei
Study of the multilayer PCB CTEs by moire interferometry
В наявності 1 з 1 примірників.
Номер документа в системі:
51296
Автор:
Han Lei
Назва документа:
Study of the multilayer PCB CTEs by moire interferometry
Мова документу
Англійська
Кількість сторінок
613–626 p.
Повернутися до переліку бібліотечних фондів