Higashida Kenji
Crack tip stress fields revealed by infrared photoelasticity in silicon crystals
В наявності 0 з 0 примірників.
Номер документа в системі:
55984
Автор:
Higashida Kenji
Назва документа:
Crack tip stress fields revealed by infrared photoelasticity in silicon crystals
Мова документу
Англійська
Кількість сторінок
377–380p.
Повернутися до переліку бібліотечних фондів