Higashida Kenji

Crack tip stress fields revealed by infrared photoelasticity in silicon crystals


В наявності 0 з 0 примірників.


Номер документа в системі:55984
Автор:Higashida Kenji
Назва документа:Crack tip stress fields revealed by infrared photoelasticity in silicon crystals
Мова документуАнглійська
Кількість сторінок377–380p.
Повернутися до переліку бібліотечних фондів