| Номер документа в системі: | 63618 |
| Автор: | Бургуэн Ж., Ланно М. |
| Назва документа: | Точеные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты |
| Видавництво: | Мир |
| Місто видання: | М. |
| Рік видання: | 1985 |
| УДК | 537.311.322:548.4 |
| Мова документу | Російська |
| Шифр документу | 537 |
| Кількість сторінок | 304 с. |