| Аннотація | Содержание
АНАЛИЗ ВЕЩЕСТВА
Ильин Н. П. Рентгенофлуоресцентный анализ по относительным интенсивностям спектральных линий компонентов. Анализ произвольных массивных образцов в тонких слоях…3
Чернецова Е. С., Ревельский А. И., Дёрст Д., Ревельский И. А.Определение отношений nс/nн в молекулах летучих Сl- и Br-содержащих углеводородов при использовании газового хроматографа с атомно-эмиссионным детектором…12
Юрченко О. И., Юрченко Л. А., Титова И. П., Исследование ацетилацетоната железа (III) в качестве стандартного образца состава для атомно-абсорбционной спектрометрии…15
Соснин Э. А., Баталова В. Н., Захарова Э. А. Применение эксиплексных источников УФ излучения в анализе…18
ИССЛЕДОВАНИЕ СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ
ФИЗИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯ
Щтремель М. А. Обобщение распределения Парето в задачах статистической металлографии…25
Ивон А. И., Бубель Т. А. Определение содержания кристаллического диоксида ванадия в материалах на его основе…31
Чекан В. А., Маркова Л. В., Пинчук Т. И., Ивахник |