| Номер документа в системі: | 85299 |
| Автор: | Глудкин О. П., Черняев В. Н. |
| Назва документа: | Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем |
| Видавництво: | Энергия |
| Місто видання: | М. |
| Рік видання: | 1980 |
| УДК | 621.396.6.049.77.001.4(075.8)+621.3.049.77 |
| Мова документу | Російська |
| Шифр документу | 621.396 |
| Кількість сторінок | 360 с. |