Запорізьк. нац. техн. ун-т. Каф. мікроелектрон. та напівпровідник. прилад.

Методичні вказівки до лабораторної роботи "Діагностика надійності інтегральних схем електропараметричним методом" з дисципліни "Надійність комп’ютерних систем"


В наявності 2 з 2 примірників.


Номер документа в системі:94469
Автор:Запорізьк. нац. техн. ун-т. Каф. мікроелектрон. та напівпровідник. прилад.
Назва документа:Методичні вказівки до лабораторної роботи "Діагностика надійності інтегральних схем електропараметричним методом" з дисципліни "Надійність комп’ютерних систем"
Видавництво:ЗНТУ
Місто видання:Запоріжжя
Рік видання:2006
УДК621.3.049.77:004.58(076)
Мова документуУкраїнська
Шифр документу621.3
Аннотація№1929 зам.1564 Виконуючи лабораторну роботу "Діагностика надійності інтегральних схем електропара-метричним методом" з дисципліни "Надійність комп'ютерних систем", студенти краще засвоюють теоретичний матеріал курсу, а також набувають практичних навичок. Мета роботи - засвоїти електропараметричну методику діагностування потенційно ненадійних інтегральних схем (ІС). Ця методика будується на дослідженні вольт-амперних характеристик (ВАХ) вхідних і вихідних електричних кіл ІС. Для дослідження взята мікросхема ТТЛШ серії 1531 типу ЛАЗ (чотири логічних елементи "2І-НЕ"). У посібнику наведено теоретичні відомості, порядок експериментального дослідження ІС 153ЛА3, послідовність виконання роботи, правила оформлення і зміст звіту, контрольні запитання, список рекомендованої літератури, а також необхідні додаткові матеріали.
Кількість сторінок22 с.
Повернутися до переліку бібліотечних фондів